Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 7 van 10 gevonden artikelen
 
 
  Parasitic series resistance extraction and impact ionization current modeling for SOI MOSFETs
 
 
Titel: Parasitic series resistance extraction and impact ionization current modeling for SOI MOSFETs
Auteur: Pidin, S.
Koyanagi, M.
Verschenen in: Microelectronics journal
Paginering: Jaargang 29 () nr. 1-2 pagina's 31-41
Jaar: 1998
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 7 van 10 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland