|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Embedded ADC characterization techniques using a BIST structure, an ADC model and histogram data |
| Auteur: |
Raczkowycz, J. Allott, S. |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 27 () nr. 6 pagina's 539-549 |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |