|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
Charge build-up and oxide wear-out during Fowler-Nordheim electron injection in irradiated MOS structures |
| Auteur: |
Brożek, Tomasz Jakubowski, Andrzej |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 25 () nr. 7 pagina's 507-514 |
| Jaar: |
1994 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |