|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Temperature, field and technological dependences of thin oxide breakdown characteristics |
| Auteur: |
Monsérié, C. Mortini, P. Pananakakis, G. Ghibaudo, G. |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 24 () nr. 4 pagina's 353-360 |
| Jaar: |
1993 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |