|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 64 van 64 gevonden artikelen
| Titel: |
Work function measurements during a growth of ultra thin films of SiO2 on characterized silicon surfaces |
| Auteur: | |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 16 () nr. 5 pagina's 54 |
| Jaar: |
1985 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Benn Electronics Publications Ltd, Luton |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 64 van 64 gevonden artikelen
| << vorige |