|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 39 gevonden artikelen
| Titel: |
An investigation of how circuit parameters affect the short-circuit type 2 ruggedness in FS-IGBT |
| Auteur: |
Zhang, Jingping Luo, Houcai Wu, Huan Zheng, Bofeng Chen, Xianping |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 159 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 39 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |