|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 46 van 56 gevonden artikelen
| Titel: |
Numerical investigation on buried gate and drift region with P-type blocks in trench SOI LDMOS |
| Auteur: |
Hu, Yue Wang, Tianci Wu, Changmiao Wang, Jing Cheng, Yuhua Zhao, Wen-sheng Wang, Gaofeng |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 156 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 46 van 56 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |