Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 38 van 40 gevonden artikelen
 
 
  Step thickness drift region automatic design of SOI LDMOS using physics-inspired constrained simulated annealing algorithm
 
 
Titel: Step thickness drift region automatic design of SOI LDMOS using physics-inspired constrained simulated annealing algorithm
Auteur: Chen, Jing
Guo, Jiajun
Yao, Qing
Yang, Kemeng
Zhang, Jun
Yao, Jiafei
Guo, Yufeng
Verschenen in: Microelectronics journal
Paginering: Jaargang 153 () nr. C pagina's p.
Jaar: 2024
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 38 van 40 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland