Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 17 van 20 gevonden artikelen
 
 
  Modeling of inner-outer gates and temperature dependent gate-induced drain leakage current of junctionless double-gate-all-around FET
 
 
Titel: Modeling of inner-outer gates and temperature dependent gate-induced drain leakage current of junctionless double-gate-all-around FET
Auteur: Kumar, Nitish
Mishra, Aakanksha
Gupta, Ankur
Singh, Pushpapraj
Verschenen in: Microelectronics journal
Paginering: Jaargang 146 () nr. C pagina's p.
Jaar: 2024
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 17 van 20 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland