|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Modeling of inner-outer gates and temperature dependent gate-induced drain leakage current of junctionless double-gate-all-around FET |
| Auteur: |
Kumar, Nitish Mishra, Aakanksha Gupta, Ankur Singh, Pushpapraj |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 146 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |