|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 35 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
Wavelet decomposition and reconstruction-based INL method for testing high-precision ADC |
| Auteur: |
Guo, Xiaohui Yan, Xu Ma, Shimin Zhang, Xinyi Yan, Ziaho Zhang, Anqi Xu, Kai Hua, Liangping Du, Yan Wang, Hao Shu, Yuxin Hong, Weiqiang Zhao, Yunong Xu, Yaohua |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 142 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 35 van 35 gevonden artikelen
| << vorige |