|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of dynamic ron stability and hot electrons reliability in normally-off AlGaN/GaN power HEMTs |
| Auteur: |
Shen, Jingyu Jing, Liang Qiu, Jinpeng |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 142 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 35 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |