|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
An all-digital built-in-self-test scheme for duty cycle corrector with de-skew circuit in NAND Flash memory |
| Auteur: |
Hai, Ya Liu, Fei Wang, Yongshan Kang, Jing |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 141 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |