|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation on dependency of thermal characteristics on gate/drain bias voltages in stacked nanosheet transistors |
| Auteur: |
Zhao, Peng Cao, Lei Zhang, Fan Xu, Haoqing Gan, Weizhuo Zhang, Qingzhu Zhang, Zhaohao Yao, Jiaxin Tian, Guoliang Luo, Kun Wu, Zhenhua Yin, Huaxiang |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 141 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |