Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 13 van 24 gevonden artikelen
 
 
  Improvement of cell internal weak defects detection under process variation by optimizing test path and test pattern
 
 
Titel: Improvement of cell internal weak defects detection under process variation by optimizing test path and test pattern
Auteur: Zhang, Hong
Liang, Huaguo
Hu, Jiewen
Shao, Zhiwei
Yi, Maoxiang
Lu, Yingchun
Huang, Zhengfeng
Verschenen in: Microelectronics journal
Paginering: Jaargang 138 () nr. C pagina's p.
Jaar: 2023
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 13 van 24 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland