|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Improvement of cell internal weak defects detection under process variation by optimizing test path and test pattern |
| Auteur: |
Zhang, Hong Liang, Huaguo Hu, Jiewen Shao, Zhiwei Yi, Maoxiang Lu, Yingchun Huang, Zhengfeng |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 138 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |