|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Single-event burnout hardening evaluation with current and electric field redistribution of high voltage LDMOS transistors based on TCAD Simulations |
| Auteur: |
Lei, Yibo Fang, Jian liang, Yingdong Zhang, Yisen Yan, Ling Tang, Lingli Yang, Xihe Zhang, Bo |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 132 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |