|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis on electrical parameters including temperature and interface trap charges in gate overlap Ge source step shape double gate TFET |
| Auteur: |
Saha, Rajesh Goswami, Rupam Panda, Deepak Kumar |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 130 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |