|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 51 van 68 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliability analysis of several conductors at high current densities for use in bubble memories |
| Auteur: | |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 13 () nr. 1 pagina's 43 |
| Jaar: |
1982 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Mackintosh Publications Ltd., Luton |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 51 van 68 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |