|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 27 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
Frequency-scaled thermal-aware test scheduling for 3D ICs using machine learning based temperature estimation |
| Auteur: |
Chatterjee, Subhajit Roy, Surajit Kumar Giri, Chandan Rahaman, Hafizur |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 128 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 27 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |