|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 38 van 49 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of negative DIBL effect for ferroelectric-based FETs to improve MOSFETs and CMOS circuits |
| Auteur: |
Huang, Weixing Zhu, Huilong Zhang, Yongkui Wu, Zhenhua Jia, Kunpeng Yin, Xiaogen Li, Yangyang Li, Chen Ai, Xuezheng Huo, Qiang Li, Junfeng |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 114 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 38 van 49 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |