|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Dual-modular-redundancy and dual-level error-interception based triple-node-upset tolerant latch designs for safety-critical applications |
| Auteur: |
Yan, Aibin He, Zhihui Zhou, Jun Cui, Jie Ni, Tianming Huang, Zhengfeng Wen, Xiaoqing Girard, Patrick |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 111 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |