|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 45 van 67 gevonden artikelen
| Titel: |
Observations of dislocations and junction irregularities in bipolar transistors using the E.B.I.C. mode of the scanning electron microscope |
| Auteur: | |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 11 () nr. 4 pagina's 42 |
| Jaar: |
1980 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Mackintosh Publications Ltd., Luton |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 45 van 67 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |