|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 49 gevonden artikelen
| Titel: |
Correlation of thin film adhesion with current noise measurements of Ta2N-Cr-Au resistors on sapphire and alumina substrates |
| Auteur: | |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 11 () nr. 3 pagina's 37 |
| Jaar: |
1980 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Mackintosh Publications Ltd., Luton |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 49 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |