|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparing bulk-Si FinFET and gate-all-around FETs for the 5 nm technology node |
| Auteur: |
Vashishtha, Vinay Clark, Lawrence T. |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 107 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |