|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 33 van 52 gevonden artikelen
| Titel: |
In situ through-thickness analysis of crack tip fields with synchrotron X-ray diffraction |
| Auteur: |
Lopez-Crespo, P. Peralta, J.V. Kelleher, J.F. Withers, P.J. |
| Verschenen in: |
International journal of fatigue |
| Paginering: | Jaargang 127 (2019) nr. C pagina's 500-508 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 33 van 52 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |