|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Microstructural characterization and failure analysis of 2D C/SiC two-layer beam with pin-bonded hybrid joints |
| Auteur: |
He, Zongbei Zhang, Litong Zhang, Yi Liu, Yongsheng Liu, Xiaoying Chen, Bo |
| Verschenen in: |
International journal of adhesion and adhesives |
| Paginering: | Jaargang 57 (2015) nr. C pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |