|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 22 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray diffraction measurement of residual stress in epitaxial ZnO/α-Al2O3 thin film |
| Auteur: |
Takali, Farid Njeh, Anouar Fuess, Hartmut Ben Ghozlen, Mohamed Hédi |
| Verschenen in: |
Mechanics research communications |
| Paginering: | Jaargang 38 (2011) nr. 3 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 22 van 22 gevonden artikelen
| << vorige |