|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 48 gevonden artikelen
| Titel: |
Derivation of test set for detecting multiple missing-gate faults in reversible circuits |
| Auteur: |
Kole, Dipak K. Rahaman, Hafizur Das, Debesh K. Bhattacharya, Bhargab B. |
| Verschenen in: |
Computers and electrical engineering |
| Paginering: | Jaargang 39 (2013) nr. 2 pagina's 12 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 48 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |