Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige   
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 18 van 18 gevonden artikelen
 
 
  Testable design of AND–EXOR logic networks with universal test sets
 
 
Titel: Testable design of AND–EXOR logic networks with universal test sets
Auteur: Rahaman, Hafizur
Das, Debesh K.
Bhattacharya, Bhargab B.
Verschenen in: Computers and electrical engineering
Paginering: Jaargang 35 (2009) nr. 5 pagina's 15 p.
Jaar: 2009
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 18 van 18 gevonden artikelen
 
<< vorige   
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland