|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Fault analysis and a unified design of PLAs for easy testability |
| Auteur: |
Sharma, Rajiv Rajashekhara, T.N. |
| Verschenen in: |
Computers and electrical engineering |
| Paginering: | Jaargang 14 (1988) nr. 1-2 pagina's 11 p. |
| Jaar: |
1988 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |