|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 34 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
YOLOv7-SiamFF: Industrial defect detection algorithm based on improved YOLOv7 |
| Auteur: |
Yi, Feifan Zhang, Haigang Yang, Jinfeng He, Liming Mohamed, Ahmad Sufril Azlan Gao, Shan |
| Verschenen in: |
Computers and electrical engineering |
| Paginering: | Jaargang 114 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 34 van 34 gevonden artikelen
| << vorige |