|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 111 van 113 gevonden artikelen
| Titel: |
Test architecture optimization algorithms for coarse-grain partitioned 3D system-on-chip |
| Auteur: |
Vohra, Harpreet Singh, Amardeep |
| Verschenen in: |
Computers and electrical engineering |
| Paginering: | Jaargang 101 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 111 van 113 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |