|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Ellipsometrical characterization of complex refractive index depth profile of 50 keV silicon ion implanted PMMA |
| Auteur: |
Russev, Stoyan C. Tsutsumanova, Gichka G. Stefanov, Ivan L. Hadjichristov, Georgi B. |
| Verschenen in: |
Vacuum |
| Paginering: | Jaargang 94 (2013) nr. C pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |