|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 24 van 73 gevonden artikelen
| Titel: |
Effect of reactive sputtered SiOx passivation layer on the stability of InGaZnO thin film transistors |
| Auteur: |
Li, Jun Zhou, Fan Lin, Hua-Ping Zhu, Wen-Qing Zhang, Jian-Hua Jiang, Xue-Yin Zhang, Zhi-Lin |
| Verschenen in: |
Vacuum |
| Paginering: | Jaargang 86 () nr. 12 pagina's 1840-1843 |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 24 van 73 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |