|
Determination of doping concentrations in very thin GaAs layers using micro-Raman spectroscopy on bevelled samples |
|
|
|
Titel: |
Determination of doping concentrations in very thin GaAs layers using micro-Raman spectroscopy on bevelled samples |
Auteur: |
Srnanek, R. Vesely, M. Vincze, A. Florovic, M. Kovac, J. Irmer, G. Prunici, P. Mc Phail, D.S. Sciana, B. Radziewicz, D. Tlaczala, M. |
Verschenen in: |
Vacuum |
Paginering: |
Jaargang 80 (2005) nr. 1-3 pagina's 4 p. |
Jaar: |
2005 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier Ltd |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|