|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 51 gevonden artikelen
| Titel: |
Atomic force microscopy analysis of morphology of the upper boundaries of GaN thin films prepared by MOCVD |
| Auteur: |
Klapetek, Petr Ohlídal, Ivan Montaigne Ramil, A. Bonnanni, A. Sitter, H. |
| Verschenen in: |
Vacuum |
| Paginering: | Jaargang 80 (2005) nr. 1-3 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 51 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |