|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of Mo/Si and W/Si interfaces by phase modulated spectroscopic ellipsometry and cross-sectional transmission electron microscopy |
| Auteur: |
Bhattacharyya, D. Poswal, A.K. Dey, G.K. Das, N.C. |
| Verschenen in: |
Vacuum |
| Paginering: | Jaargang 76 (2004) nr. 1 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |