|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 57 gevonden artikelen
| Titel: |
Admittance spectroscopy of metal–semiconductor interfaces prepared by ionized cluster beam technique |
| Auteur: |
Korošak, Dean Cvikl, Bruno |
| Verschenen in: |
Vacuum |
| Paginering: | Jaargang 71 (2003) nr. 1-2 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 57 gevonden artikelen
| volgende >> |