|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 32 van 47 gevonden artikelen
| Titel: |
RBS and channeling analysis of cobalt disilicide layers produced by focused ion beam implantationfn2 fn2 Paper presented at the 10th International School on Vacuum, Electron and Ion Technologies, 22–27 September 1997, Varna, Bulgaria |
| Auteur: |
Teichert, J Voelskow, M Bischoff, L Hausmann, S |
| Verschenen in: |
Vacuum |
| Paginering: | Jaargang 51 (1998) nr. 2 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 32 van 47 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |