|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 82 van 94 gevonden artikelen
| Titel: |
Theoretical calculations of the broadening of dilute Si, Al and Be doped δ layers in GaAs during SIMS depth profiling |
| Auteur: |
Badheka, R Van den Berg, JA Armour, DG Wadsworth, M |
| Verschenen in: |
Vacuum |
| Paginering: | Jaargang 44 (1993) nr. 3-4 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1993 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 82 van 94 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |