|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 179 van 237 gevonden artikelen
| Titel: |
Spat studies of near surface defects in silicon induced by BF+ 2 and F+ + B+ implantation |
| Auteur: |
Xiaoqin, Li Chenglu, Lin Shichang, Zou Heiming, Weng Xuedian, Han |
| Verschenen in: |
Vacuum |
| Paginering: | Jaargang 42 (1991) nr. 16 pagina's 2 p. |
| Jaar: |
1991 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 179 van 237 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |