|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 134 gevonden artikelen
| Titel: |
A combined transport-defect evolution model of microstructure damage in silicon carbide induced by precise irradiation of focused helium ion beams |
| Auteur: |
Li, Qi Liu, ZiHan Lin, Xi Lin, XiaoHui Xing, Yan Zhou, Zaifa |
| Verschenen in: |
Vacuum |
| Paginering: | Jaargang 230 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 134 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |