|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 75 van 80 gevonden artikelen
| Titel: |
The effect of thickness on surface structure of rf sputtered TiO2 thin films by XPS, SEM/EDS, AFM and SAM |
| Auteur: |
Güzelçimen, Feyza Tanören, Bükem Çetinkaya, Çağlar Kaya, Meltem Dönmez Efkere, H. İbrahim Özen, Yunus Bingöl, Doğukan Sirkeci, Merve Kınacı, Barış Ünlü, M. Burçin Özçelik, Süleyman |
| Verschenen in: |
Vacuum |
| Paginering: | Jaargang 182 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 75 van 80 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |