|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 71 van 79 gevonden artikelen
| Titel: |
Study on device reliability for P-type FinFETs with different fin numbers |
| Auteur: |
Yang, Yi-Lin Zhang, Wenqi Yan, Shen-Yi Yu, Yin-Hung Fang, Zhen-Yu Yeh, Wen-Kuan |
| Verschenen in: |
Vacuum |
| Paginering: | Jaargang 181 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 71 van 79 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |