|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 46 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical stress probing recovery efficiency of 28 nm HK/MG nMOSFETs using decoupled plasma nitridation treatment |
| Auteur: |
Wang, Shea-Jue Sung, Shun-Ping Wang, Mu-Chun Huang, Heng-Sheng Chen, Shuang-Yuan Fan, Shou-Kong |
| Verschenen in: |
Vacuum |
| Paginering: | Jaargang 153 (2018) nr. C pagina's 117-121 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 46 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |