|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 46 van 57 gevonden artikelen
| Titel: |
Stress induced degradation and reliability of Al2O3 thin film on silicon |
| Auteur: |
Kashniyal, Upendra Pandey, Kamal Prakash |
| Verschenen in: |
Vacuum |
| Paginering: | Jaargang 152 (2018) nr. C pagina's 109-113 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 46 van 57 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |