|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 27 van 57 gevonden artikelen
| Titel: |
Low energy ion scattering as a depth profiling tool for thin layers - Case of bromine methanol etched CdTe |
| Auteur: |
Šik, Ondřej Bábor, Petr Polčák, Josef Belas, Eduard Moravec, Pavel Grmela, Lubomír Staněk, Jan |
| Verschenen in: |
Vacuum |
| Paginering: | Jaargang 152 (2018) nr. C pagina's 138-144 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 27 van 57 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |