|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Alarm rationalization and dynamic risk analyses for rare abnormal events |
| Auteur: |
Sudarshan, Vikram Seider, Warren D. Patel, Amish J. Oktem, Ulku G. Arbogast, Jeffrey E. |
| Verschenen in: |
Computers and chemical engineering |
| Paginering: | Jaargang 184 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 22 gevonden artikelen
| volgende >> |