Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 8 van 31 gevonden artikelen
 
 
  Distance metric learning for pattern recognition
 
 
Titel: Distance metric learning for pattern recognition
Auteur: Lu, Jiwen
Wang, Ruiping
Mian, Ajmal
Kumar, Ajay
Sarkar, Sudeep
Verschenen in: Pattern recognition
Paginering: Jaargang 75 (2018) nr. C pagina's 1-3
Jaar: 2018
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 8 van 31 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland