|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Wavelet-based defect detection in solar wafer images with inhomogeneous texture |
| Auteur: |
Li, Wei-Chen Tsai, Du-Ming |
| Verschenen in: |
Pattern recognition |
| Paginering: | Jaargang 45 (2012) nr. 2 pagina's 15 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 21 gevonden artikelen
| << vorige |