|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
A compact local binary pattern using maximization of mutual information for face analysis |
| Auteur: |
Jun, Bongjin Kim, Taewan Kim, Daijin |
| Verschenen in: |
Pattern recognition |
| Paginering: | Jaargang 44 (2011) nr. 3 pagina's 12 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |